Высокого качества
полноцветной продукции можно достичь только тщательно контролируя все этапы производства – от подготовки оригинал-макета
– до финишной обработки продукта.
Контрольно-измерительное оборудование ведущих мировых производителей Techkon, X-rite (GretagMacbeth), Viptronic позволяют
достигать высокой точности измерений на любом необходимом участке производства:
- калибраторы мониторов.
- денситометры для контроля параметров пленки.
- денситометры и цифровые микроскопы для контроля офсетных пластин.
- денситометры и спектрофотометры для контроля печатного процесса.
- сканирующие денситометры для оперативного контроля печатных оттисков.
- автоматизированные системы профилирования.
- программное обеспечение для управления цветом.
|
 |
Techkon
Немецкая компания TECHKON GmbH посвятила более 35 лет разработке и внедрению контрольно-измерительного обрудования,
что позволило ей занять лидирующие позиции в отрасли измерения цвета. Философия компании отражена в ее девизе: "Успех может бить измерян".
На сегодняшний день оборудование Techkon покрывает весь диапазон применяемых в полиграфии измерений - от денситометров для допечатных процесоов, до автоматизированного спектрофотометрического оборудования и систем управления цветом.
| Модель |
Функции |
|
Денситометры |
| Techkon Dens |
Оптическая плотность, разность оптических плотностей, процент растровой точки, встроенная лупа с подсветкой |
|
Спектроденситометры Techkon SpectroDens |
| Basic |
Оптическая плотность и разность плотностей, цветовой баланс, баланс по серому,
площадь растровой точки, растискивание, контраст печати, спектральная плотность дополнительных цветов (Pantone),
построение графика печати, скольжение/двоение, сканирование коротких шкал с построением зональной диаграммы,
процент растра на печатных формах по формуле Юла-Нильсена, измерение условий в соответствии с ISO 13655 М0 – М3 |
| Advanced |
Все функции «Basic» и дополнительно: CIE L*a*b, DE*ab, CIE L*С*h*ab, CIE XYZ, CIE цветовой круг,
DE*cmc, DE*CIE94, DE*CIE2000, спектр отражения, InkCheck: контроль цвета дополнительных цветов,
цветовая библиотека на 20 справочников и 3000 значений, память на 1200 образцов и 300 эталонов,
баланс по серому по системе Gracol G7, измерение условий в соответствии с ISO 13655 М0 – М3 |
| Premium |
Функции «Advanced» и дополнительно: CIE L*u*v*, CIE L*C*h*uv, CIE xyY, DIN Lab99,
Оценка шкалы Ugra/Fogra media wedge, ISO-Check: цветовой контроль по стандарту ISO 12647, метаметрический индекс,
индекс белизны/желтизны, Допуск/Ошибка (Pass/Fail), баланс по серому по системе Gracol G7 |
|
Денситометры для контроля офсетных форм SpectroPlate |
| Start |
Процент растра, линиатура, угол наклона растра, цифровой микроскоп |
| Expert |
Функции SpectroPlate Start и дополнительно построение кривой растискивания,
геометрический анализ, память до 100 измерений |
| All-Vision |
Функции SpectroPlate Expert и дополнительно измерение параметров беспроцессорных пластин с очень низким видимым контрастом |
|
 |
X-rite
Компания X-Rite, является одним из мировых лидеров по производству средств контроля качества для полиграфии.
В настоящее время X-Rite выпускает широкий ассортимент контрольно-измерительного оборудования, позволяющего обеспечить полноценный контроль качества всего полиграфического процесса.
В линейке продукции компании представлены как средства для контроля печати (например, спектроденситометры 500-серии), так и оборудование для контроля допечатных процессов (денситометры для пленок и денситометры для печатных пластин), так же предлагаются приборы необходимые на этапе дизайна и подготовки к печати (калибраторы мониторов и спектрофотометры семейства iOne)
| Модель |
Функции |
|
Спектроденситометр серии eXact |
| X-rite eXact |
Оптическая плотность, растискивание, процент растра, показатель красковосприятия,
баланс "по-серому", измерение печатных пластин, измерение в режимах M0, M2, M3, BestMatch, CIE L*a*b*, CIE L*C*h°,
dE*76, dE*94, dE*00, dE CMC, библиотеки Pantone |
|
Спектроденситометры |
| X-rite 504 |
Оптическая плотность, разность оптических плотностей |
| X-rite 508 |
Оптическая плотность, разность оптических плотностей, процент растровой точки, растискивание |
| X-rite 518 |
Оптическая плотность, разность оптических плотностей, процент растровой точки, растискивание, треппинг, контраст печати |
| X-rite 520 |
Оптическая плотность, разность оптических плотностей, процент растровой точки, растискивание, ошибка по цвету, баланс по серому, возможность представления данных в цветовых моделях XYZ и Lab |
| X-rite 528 |
Оптическая плотность, разность оптических плотностей, процент растровой точки, растискивание, ошибка по цвету, баланс по серому, треппинг, контраст печати, яркость, функции спектрофотометрии, колориметрические измерения, характеристика бумаги |
| X-rite 530 |
Оптическая плотность, разность оптических плотностей, процент растровой точки, растискивание, ошибка по цвету, баланс по серому, треппинг, контраст печати, яркость, EFS выбор функции, функции спектрофотометрии, колориметрические измерения, характеристика бумаги, спектральная кривая |
| DensiEye 700 |
Оптическая плотность, растискивание, процент растра, показатель красковосприятия, баланс по серому.Световой индикатор, превышения допуска измеренного значения.Размер апертуры: 3 и 1,6 мм, скорость измерения - 0.5 сек.Количество измерения для одного комплекта батарей: 500 000
|
|
Денситометры на просвет для контроля пленок |
| X-rite 341 |
Портативный денситометр для пленок. Оптическая плотность, процент растра |
| X-rite 361T |
Стационарный денситометр для пленок. Оптическая плотность, процент растра |
|
Денситометры для контроля офсетных форм |
| ccDot |
Процент растра, цифровой микроскоп |
| iCPlate |
Процент растра, цифровой микроскоп |
|
 |
| |
|
| |
|
| |
|
| |
|
|
